晶體匹配電路參數測試
來源：http://taiheth.com 作者：泰河電子工程部 2019年08月15
在晶振電路的研究中，晶體單元安裝在客戶的電路板上，并確認與晶體元器件相匹配，并提出了適當的條件。如果在匹配過程中出現不適合的可能會導致市場出現意外問題，如非振蕩，頻率偏差和啟動失敗，為了避免這些麻煩又耽誤事情的問題出現也為了可以實現穩定的振蕩，我司可以提出最佳匹配的系統。針對目前進行的電路調查，已有超過70%的案例提出了改變。如果有必要，我們將建議更改晶體單元規格，要使用IC和電路常數、
在檢查振蕩器電路和晶體單元之間的匹配時，要了解到什么樣的狀態是較為適當的，可以從以下的觀點來評估。
1.水晶振蕩子是否穩定的振蕩
2.頻率是否準確
3.是否發生異常
（例如:頻率比預期偏差，在常溫下以穩定的頻率進行振蕩，但頻率在低溫下或高溫下跳躍）
在上述匹配評估中使用以下三個指標
1.水晶振蕩子是否穩定的振蕩⇒負性電阻
2.頻率是否準確⇒振蕩頻率的差異
3.是否發生異常⇒驅動電平
使用這些指標進行評估，并在最佳振蕩條件下試驗電路常數（電容和電阻值）。
在檢查振蕩器電路和晶體單元之間的匹配時，要了解到什么樣的狀態是較為適當的，可以從以下的觀點來評估。
1.水晶振蕩子是否穩定的振蕩
2.頻率是否準確
3.是否發生異常
（例如:頻率比預期偏差，在常溫下以穩定的頻率進行振蕩，但頻率在低溫下或高溫下跳躍）
在上述匹配評估中使用以下三個指標
1.水晶振蕩子是否穩定的振蕩⇒負性電阻
2.頻率是否準確⇒振蕩頻率的差異
3.是否發生異常⇒驅動電平
使用這些指標進行評估，并在最佳振蕩條件下試驗電路常數（電容和電阻值）。
術語解說
負性電阻-R：通過消除晶體單元的電阻R來振蕩電路的能力
振蕩頻率-F：取決于負載電容的特性CL
驅動電平DL：晶體單元的電阻R耗電量
負性電阻-R：通過消除晶體單元的電阻R來振蕩電路的能力
振蕩頻率-F：取決于負載電容的特性CL
驅動電平DL：晶體單元的電阻R耗電量
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